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    復合式測量機 ZEISS O-INSPECT
    來源:ZEISS  時間:2018-04-08

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    這一刻,全功能觸手可及實現可靠測量。

    蔡司,成就這一刻。

    ZEISS的O-INSPECT復合式測量機能夠使您通 過光學或接觸式對每個特性進行最佳測量。特 點:O-INSPECT在18-30℃的溫度范圍內提供 符合ISO標準的可靠三維精度。


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    O-INSPECT所具有的多功能性使其成為醫療技術、 塑料技術、電子與精密工程領域的理想檢測方案。

    ZEISS O-INSPECT 產品系列


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    O-INSPECT 322 測量范圍 [dm] 3/2/2 E0 自1.6 μm


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    O-INSPECT 543 Measuring range [dm] 5/4/3 E0 from 1.6 m


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    O-INSPECT 863 測量范圍 [dm] 8/6/3 E0 自1.9 μm


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    每一領域中的專家

    ZEISS O-INSPECT能提供尖端光學和接觸式性能–完全的三維軟件, 不會出現任何的漏洞。CALYPSO軟件不僅能夠得到簡單易懂的報告, 而且還能自動監測測量過程中產生的錯誤。

    亮點

    ? VAST XXT 接觸式連續掃描傳感器
    最小的探測力,最小的針尖直徑,輪廓測量時,通過掃描能夠得到更多測量點。

    ? ZEISS Discovery.V12 鏡頭: 視野范圍大,無失真

    ? 白光傳感器(選配)可以測量小而敏感的表面

    ? ZEISS CALYPSO 標準軟件: 在一個視圖中查看實時圖像和結果,具有CAD比對功能

    ? 托盤系統與自動溫度傳感器

    ? 轉臺(選配),可實現360°測量


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    視野范圍大,提供絕佳的圖像質量

    ZEISS Discovery.V12 變焦鏡頭

    ZEISS Discovery.V12 來自ZEISS的顯微鏡事業部

    與常規鏡頭比較,提供四倍更大視場,即便于鏡頭周邊區域亦可確保極佳圖像質量 優點:減少測量時間并具有穩定的精度。


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    ZEISS Discovery.V12的大視野2/3英寸CCD。 比如,以一個孔為例,完全可以一次成像進行測量評價, 無需多次成像進行拼接再評價

    標準鏡頭: 會產生圖像失真


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    ZEISS Discovery.V12: 幾乎無失真


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    圖像對比

    O-INSPECT照明系統

    精確的結果需要高對比度成像。 為此,ZEISS O-INSPECT配備了高度可變的照明系統。 可以照亮不同的外形、材質和表面顏色, 也可以實現不同角度的照明, 并且邊緣更加清晰可見。


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    底部光

    底部光能產生最強的明暗對比度。 因此對于外邊緣和通孔來說,它 是理想的照明解決方案。


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    同軸光照明

    采用同軸光照明可以照亮小 的深孔并且準確地測量。


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    同軸鐳射導航

    鏡頭中心的鐳射導航功能 可進行快速定位測量位置, 提高編程速度。


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    測量空間照明(選配)

    無需擔心周圍環境光線不好, 測量空間照明系統可以幫助 測量人員解決困擾。


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    白光距離傳感器

    可以在 O-INSPECT上配備白光距離傳感器。 它可用于三維結構的高效測量, 基于色階共聚焦原理獲取深度信息。 優點:不受材質的反光和透明的特性影響, 可以準確的得到被測表面的高度和輪廓信息。


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    塑料外殼


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    特殊結構側視圖

    用于反光與透明材質

    白光距離傳感器可用于測量 反光或透明的對象,例如: 鏡面,玻璃,亦可檢測高吸 收率,無光澤表面。


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    五十分硬幣的平面度掃描。

    基于白光距離傳感器以 光學方式獲取 3D 結構


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    更多的測量點,更多的信息 VAST XXT 連續掃描傳感器

    O-INSPECT 配備靈活、快速及高精度 的VAST XXT 接觸式連續掃描傳感器, 不僅可實現單點測量,更可高效精確掃 描測量各類形狀誤差。


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    O-INSPECT擁有毫牛級別的探測 力,而其它復合式測量機只能使用 較高的探測力執行單點測量。 這樣 的優勢保證我們能夠執行真正的 3D測量,并 獲得快速、精確的測量結 果。

    傳感器的種類

    有兩種不同的傳感器可供選擇: VAST XXT TL1具有最小的探測力, 因此特別適合于掃描敏感工件,如 注塑成型的薄壁塑料件。VAST XXT TL3能夠安裝重量更大的探針,用 于大型工件的測量,具有更大的靈 活性。

    探針的靈活選擇

    VAST XXT 支持30-125 mm 探 針,可實現深孔的快速測量。 65 mm的側向探針可確保最佳的柔 性,實現不更換測針的條件下測 量具有復雜幾何形狀的工件。

    快速更換探針

    即便手動更換,該探針亦可自動 識別,無需耗時的重復校準。


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    使用星形測針,則不需要更換測針。


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    托盤上下料系統

    對日常測量來說,方便性和可靠性至關重要。 托盤系統,O-INSPECT使用的標定物體和夾具為您提供更多的時間和可靠性。 特點:自動檢查托盤上的工件溫度并用于溫度補償。

    校準托盤


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    可以于O-INSPECT校準托盤上安裝校準球和玻璃校準片。 繼而將整個托盤放在測量臺上,則可以減少裝夾的時間。

    玻璃平板


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    玻璃平板用于表面光和底部光的產品測量, 適用于可以簡單固定產品的夾具系統。

    三明治孔板


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    三明治孔板用于表面光的測量, 支持接觸式和光學測量。 夾具系統可以安裝在此三明治孔板的螺紋孔中, 適用即簡便又可靠。

    轉臺


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    轉臺(選項)可以使O-INSPECT 執行軸向旋轉, 從而實現產品全方位測量。

    導軌裝夾系統


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    工件的正確定位和牢固夾緊對于工件的 精確測量至關重要。 我們的導軌裝夾系統使您能夠在光學測 量中快速、簡易地完成工件定位與裝夾。

    CARFIT CMK 夾具組件


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    使用CARFIT CMF夾具套盒, 可以容易地將部件安裝在網格托盤上 規定的位置。所有CARFIT標準零部件 都相互兼容,并可以在短時間內發貨。

    多傳感器標準器


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    多傳感器標準器是用于檢測接觸式和 光學傳感器的標準檢測系統。 用于對配備有接觸與光學傳感器的坐 標測量機進行精度檢驗,同時提供相 關評估軟件平臺。


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    ZEISS CALYPSO

    CALYPSO測量軟件的使用確保了在一個視圖 同時展現影像、CAD圖、及測量結果。其靈 活性與簡易性使得其處于測量技術關鍵地位。

    O-INSPECT與 CALYPSO測量軟件提供 全新的可視化功能,使O-INSPECT 全 面開啟了測量機可視化的新紀元。 通過它們您可以同時查看實際狀態、理 論狀態及偏差,更快捷詮釋測量結果。

    所有任務使用一個軟件

    O-INSPECT 結合高品質的測量軟件平臺 體現更多的優勢, 通過CALYPSO 軟件同 時實現與其它蔡司三坐標測量機的程序共 享。 CALYPSO 使用通用的測量理念,結 合了大量的功能和靈活性。C A L Y P S O 使 您能夠使用相同的方式快速、簡單地完成 大量的測量工作。


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    CAD 面模型和可視化圖像


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    CAD 線模型和可視化圖像


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    CAD 模型、可視化圖像、測量策略和偏差。


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